Cilji diplomskega dela

• Postaviti napravo za preizkušanje pogostosti pojavljanja napak v integriranih vezjih zaradi u?inkov posameznih dogodkov z metodo pulznega laserja.

• Preizkusiti delovanje vseh sklopov merilne naprave in spoznati njihove lastnosti - napraviti testno meritev in oceniti rezultate.

• Preiskati integrirano vezje VA1_prime, del ?italne elektronike silicijevega mikropasovnega detektorja spektrometra Belle.

Notes: